Atlas SWIR-Kamera - Sony SenSWIR IMX990 IMX991

KameraKamera für den sichtbaren und den kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR)

Die Atlas™ SWIR IP67-Kamera von LUCID ist eine GigE-PoE+-Kamera mit hochempfindlichen Sony SenSWIR 1,3 MP IMX990 und 0,3 MP IMX991 InGaAs-Sensoren, die Bilder sowohl im sichtbaren als auch im nichtsichtbaren Lichtspektrum erfassen können und eine miniaturisierte Pixelgröße von 5μm aufweisen. Die Fähigkeit der Kamera zur Erfassung des kurzwelligen Infrarotlichtspektrums eröffnet eine Welt industrieller Anwendungen mit höherer Präzision bei der Inspektion und Sortierung von Obst, Verpackungen, IR-Mikroskopie, Halbleiterinspektion, Materialsortierung und mehr.

Die Atlas SWIR ist mit zahlreichen industriellen Funktionen ausgestattet, die einen zuverlässigen Betrieb in schwierigen Umgebungen ermöglichen.

PoE

Stromversorgung über Ethernet (PoE+)

IEEE 802.3at ermöglicht sowohl die Stromversorgung als auch die Datenübertragung über ein einziges Ethernet-Kabel, sodass die Gesamtkosten gesenkt und die Installation und Wartung vereinfacht werden.

PoE

Aktive Sensorausrichtung

Alle Kameras werden aktiv ausgerichtet, um die Kippung des Bildsensors und Drehung des Bildsensors zu minimieren und den Mittelpunkt des Bildsensors auf die optische Achse des Objektivs zu legen.

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Robuste M12- und M8-Steckverbinder

Entwickelt für sichere Verbindungen und fehlerfreien Betrieb in vibrierenden Umgebungen und geschirmt zum Schutz vor elektrischen Störungen

100m Kabellängen

Kompatibel mit kostengünstigen CAT5e-, CAT6-, CAT6a- und CAT7-Verkabelungen für Gigabit-Ethernet-Bandbreiten mit einer maximalen Kabellänge von 100 m.

Nahaufnahme Sony SenSWIR-Sensor View detail
Atlas SWIR IP67 Staub- und Wasserschutz View detail
Atlas SWIR TEC1 Kühlungstechnologie View detail

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**Vorläufige Daten** Für einen detaillierten Blick auf die Modellspezifikationen klicken Sie bitte auf die nachstehenden Teilenummern.

KameramodellAuflösungAuflösung (HxV)BildrateSensorMax. BildkreisPixelgrößeShutter-TechnologieObjektivanschlussChroma / EmpfindlichkeitSchnittstelle
ATP003-WC0,3 MP640 x 512 px256 fpsSony IMX991 CMOS1/4“5 µmGlobalCMono, 400nm - 1700nmM12 GigE Vision
ATP013-WC1,3 MP1280 x 1024 px90 fpsSony IMX990 CMOS1/2“5 µmGlobalCMono, 400nm - 1700nmM12 GigE Vision

Fortschrittliche SWIR-Pixel-Technologie

Was kann eine SWIR-Kamera leisten?

Visible Spectrum

Obstinspektion mit Atlas SWIR-Kamera

SWIR ist empfindlich gegenüber Wasser und kann zur Erkennung von Feuchtigkeit in Obst und Gemüse verwendet werden. Unterschiede im Feuchtigkeitsgehalt können sich als Druckstellen im Obst und Gemüse bemerkbar machen. Im obigen Beispiel sind normale Wellenlängen (links) nicht in der Lage, Druckstellen zu erkennen, aber SWIR kann Druckstellen in den Äpfeln erkennen (rechts).

Kaffeebohnen SWIR-Kamera inspection

Verschiedene Objekte mit ähnlicher Farbe und Form können schwer voneinander zu unterscheiden sein. SWIR-Wellenlängen werden je nach Material des Objekts unterschiedlich absorbiert und reflektiert (rechts). Dies kann genutzt werden, um Fremdkörper zu erkennen, die mit sichtbarem Licht unentdeckt bleiben würden (links).

Verpackungsprüfung mit Atlas SWIR-Kamera

Die Überprüfung des Füllstands von Verpackungen ist unter sichtbarem Licht schwierig (links), vor allem wenn die Verpackung mit Grafiken bedruckt ist. Bestimmte undurchsichtige Kunststoffverpackungen werden unter SWIR-Wellenlängen transparent (rechts). Dies kann zur Füllstandskontrolle oder zur Überprüfung der Unversehrtheit des Siegels bei Heißsiegelverpackungen in der Lebensmittelindustrie verwendet werden.

Pulverinspektion mit SWIR-Kamera

Verschiedene Verbindungen, die im sichtbaren Licht ähnlich aussehen, können SWIR-Wellenlängen unterschiedlich absorbieren. In diesem Beispiel sind Mehl, Backpulver und Zucker von links nach rechts angeordnet. Durch die Auswahl eines bestimmten schmalen Bandes des SWIR-Spektrums ist es einfach, zwischen den verschiedenen Materialien zu unterscheiden. Dies eignet sich gut für die Anwendung in der pharmazeutischen Industrie, wo es darauf ankommt, verschiedene Verbindungen mit Sicherheit zu identifizieren.

Wafer-Silizium-Inspektion Swir-Kamera

SWIR kann zur Inspektion von Siliziumwafern verwendet werden, da Silizium bei Wellenlängen (rechts). Während sichtbares Licht zur Erkennung von Problemen auf der Vorderseite des Wafers verwendet werden kann (links), lassen sich mit SWIR Fremdkörper oder Unvollkommenheiten sowohl auf der Vorder- als auch auf der Rückseite des Wafers leichter erkennen.

Schätzung der Temperatur mit SWIR

Bestimmte Materialien ändern ihre Farbe im sichtbaren Lichtspektrum nicht, wenn sie sich erhitzen (links). SWIR ist viel empfindlicher bei der Erkennung von Temperaturänderungen von 100°C bis über 1600°C bei Objekten (rechts).

Images Source Sony Semiconductor Solutions Corporation: https://www.sony-semicon.co.jp/e/products/IS/industry/technology/swir.html

Spectrum long

Thermoelektrische Kühlung (TEC) für konsistente Bildgebungsleistung

SWIR-Sensor-Dunkelstrom-Vergleichstabelle

Relativer Dunkelstrom

Die Atlas SWIR-Kamera ist mit einer integrierten einstufigen thermoelektrischen Sensorkühlung (TEC1) ausgestattet, die eine hervorragende Bildqualität und einen erweiterten Betriebstemperaturbereich gewährleistet. Die TEC1 bietet ein Delta T von bis zu 30°C. Darüber hinaus verfügt die Atlas SWIR IP67 Kamera über einen internen Kühlkörper, der die Sensorwärme schnell an das Kameragehäuse ableitet. Der TEC in Verbindung mit einem internen Kühlkörper und einem Aluminiumgehäuse ermöglicht eine gleichbleibende Bildqualität bei Gehäusetemperaturen von -20°C bis 50°C.

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